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产地 | 国产 | 加工定制 | 否 |
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半导体粉末电阻率测试仪 型号:TC-FZ-2006
一、产品用途:
本产品参照有关标准设计。于半导体粉末和固体的电阻率测量,直接数字显示电阻或电阻率值,稳定可靠,价格低廉。配置粉末测试台或四探针测试台可以对粉末、片状、块状材料及固态金属测试,测量范围:电阻率为10-2--105Ω·cm,分辩率为0.1mΩ·cm。
仪器主主要包括电气箱和测试架两部分组成,电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感和加压机构、粉末标准容器,压力机构采用手动操作、压力平稳。仪器有自校功能。仪器采用通用的电流、电压降法,即四端子测量法,两介电流和电压电同时和样品接触,可以消除连接系统所带来的误差。克服二端测量粉末电阻率仪器的弊病,真实准确测量粉末样品的电阻率,测量精度高,稳定性、重复性好。使用方便。
本仪器是检验和分析半导体固态和粉态样品质量的重要工具,于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂等企业以及高等院校和科研部门。
二、主要技术指标
1.测量范围:电阻10-2--105Ω,分辨率0.1mΩ。
电阻率10-2--105Ω·cm,分辨率0.1mΩ·cm。
测量误差±(0.3%读数+2字)。
2.测量电压量程:20mV、200mV、2V,分辨率10μV。
测量误差±(0.3%读数+2字)。
3.测量电流:0--100mA连读可调。
电流量程:10μA、100μA,1mA 、10mA、100mA。
4.试样粒度:标准筛网40目以下直至纳米材料。
5.试样容器:内腔Φ16.30±0.1mm,Φ10±0.1mm。可选用
6.试样高度:16mm±0.5mm, 10mm±0.5mm测量误差±0.1mm
7. 取样压力::4Μpa±0.05Μpa(40kg/cm2±0.5kg/cm2)
8. 显示方式: 3 1/2 数量字显示电阻、电阻率、压力、单位、小数点。自动显示。
9. 电源:220V±10%,50--60HZ,功率消耗<150W
10.外形:电气箱,440mm×110mm×320mm
半导体粉末电阻率测试仪
产品名称:数字示波器/数字示波仪 产品型号:DS1102E |
数字示波器/数字示波仪型号:DS1102E
1. 混合信号示波器(MSO)配备16通道逻辑分析仪
(DS1000D)
2. 实时采样率1 GSa/s, 存储深度高达1 Mpts
3. 丰富的触发功能:边沿、视频、脉宽、斜率、交替
4. 5.6英寸 64k色TFT LCD,清晰显示波形
5. 紧凑的设计,节约实验台桌面空间
6. 集成USB Host & Device, 支持U盘存储和PictBridge
打印机
设备型号 | DS1102E | DS1052E | ||
DS1102D | DS1052D | |||
带宽 | 100MHz | 50MHz | ||
通道数 | 2 通道+外触发 | |||
实时采样率 | 1GSa/s(单通道),500MSa/s(双通道) | |||
等效采样率 | 25GSa/s | 10GSa/s | ||
上升时间 | 3.5ns | 7ns | ||
存储深度 | 通道模式 | 采样率 | 普通存储 | 长存储 |
单通道 | 1GSa/s | 16kpts | N.A. | |
单通道 | 500Msa/s或更低 | 16kpts | 1Mpts | |
双通道 | 500Msa/s或更低 | 8kpts | 512kpts | |
时基范围 | 2 ns/div ~50s/div | 5 ns/div ~50s/div | ||
触发方式 | 边沿、视频、脉宽、斜率、交替、码型和持续时间(DS1000D) | |||
垂直分辨率 | 8 bits | |||
垂直灵敏度 | 2 mV/div ~10V/div | |||
Z大输入电压 | All Input 1MΩ||15pF 300Vrms Max CATI | |||
滚动范围 | 500ms/div ~50s/div | |||
光标测量 | 手动模式、追踪模式、自动测量 | |||
数学运算 | +,-,×,FFT | |||
内部存储 | 10 组波形、10组设置 | |||
外部存储 | BMP、CSV、波形存储、设置存储 | |||
接口 | USB Device,USB Host,RS-232, P/F Out | |||
显示 | 64 k色TFT彩色液晶屏,320×234分辨率 | |||
电源 | AC: 100 ~ 240 VACRMS,45 ~ 440 Hz,CAT II,50 VA Z大值 | |||
MSO 逻辑分析仪 | DS1102D | DS1052D | ||
通道数 | 16 通道 | |||
采样率 | 200MSa/s (每通道l) | |||
存储深度 | 512k pts (每通道l) | |||
触发方式 | 码型和持续时间 | |||
门限电平 | TTL=1.4V, CMOS=2.5V, ECL=-1.3V, USER=-8V ~ + 8V |
产品名称:差示扫描量热仪 产品型号:DSCHP 停产 |
差示扫描量热仪型号:DSCHP
DSCHP差示扫描量热仪介绍:
材料的物理过程和化学反应会受到气体压力的影响,需要在一定压力下进行DSC测试。
DSCHP差示扫描量热仪是我公司推出的一款DSC,用于测量在一定压力下材料内部热转变相关的温度、热流的关系。
应用范围广泛,应用于:氧化稳定性、聚合物固化反应、相转变、熔融、黏合剂的交联、氧化诱导期、模拟实际反应环境和特定气氛下测量、测量与沸点有关的压力等。
DSCHP差示扫描量热仪主要特点:
1.特殊的炉体结构,确保下基线的稳定性和重复性
2.安全防护系统,保障0-5MPa压力范围的安全性
3.仪器采用双向控制(主机控制、软件控制),界面友好,操作简便
DSCHP差示扫描量热仪技术参数:
1. DSC量程: 0~±500mW
2. 温度范围: 室温~600℃
3. 压力范围: 0~5MPa
4. 升温速率: 1~60℃/min
5. 温度分辨率: 0.1℃
6. 温度波动: ±0.1℃
7. 温度重复性: ±0.1℃
8. DSC噪声: 0.01μW
9. DSC解析度: 0.01μW
10.DSC精确度: 0.1μW
11.DSC灵敏度: 0.1μW
12.控温方式: 升温、恒温(全自动程序控制)
13.曲线扫描: 升温扫描
14.显示方式: 24bit色,7寸 LCD触摸屏显示
15.数据接口: 标准USB接口
16.参数标准: 配有标准物质(锡),用户可自行校正温度和热焓
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