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半导体粉末电阻率测试仪

简要描述:半导体粉末电阻率测试仪 本产品参照有关标准设计。于半导体粉末和固体的电阻率测量,直接数字显示电阻或电阻率值,稳定可靠,价格低廉。配置粉末测试台或四探针测试台可以对粉末、片状、块状材料及固态金属测试,测量范围:电阻率为10-2--105Ω·cm,分辩率为0.1mΩ·cm。

  • 产品型号:TC-FZ-2006
  • 厂商性质:其他
  • 更新时间:2024-05-07
  • 访  问  量:521

详细介绍

产地国产加工定制

半导体粉末电阻率测试仪  型号:TC-FZ-2006

一、产品用途:

本产品参照有关标准设计。于半导体粉末和固体的电阻率测量,直接数字显示电阻或电阻率值,稳定可靠,价格低廉。配置粉末测试台或四探针测试台可以对粉末、片状、块状材料及固态金属测试,测量范围:电阻率为10-2--105Ω·cm,分辩率为0.1mΩ·cm

仪器主主要包括电气箱和测试架两部分组成,电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感和加压机构、粉末标准容器,压力机构采用手动操作、压力平稳。仪器有自校功能。仪器采用通用的电流、电压降法,即四端子测量法,两介电流和电压电同时和样品接触,可以消除连接系统所带来的误差。克服二端测量粉末电阻率仪器的弊病,真实准确测量粉末样品的电阻率,测量精度高,稳定性、重复性好。使用方便。

本仪器是检验和分析半导体固态和粉态样品质量的重要工具,于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂等企业以及高等院校和科研部门。

 

二、主要技术指标

1.测量范围:电阻10-2--105Ω,分辨率0.1

             电阻率10-2--105Ω·cm,分辨率0.1mΩ·cm

             测量误差±(0.3%读数+2字)。

2.测量电压量程:20mV、200mV、2V,分辨率10μV

             测量误差±(0.3%读数+2字)。

3.测量电流:0--100mA连读可调。

电流量程:10μA、100μA,1mA 、10mA、100mA

4.试样粒度:标准筛网40目以下直至纳米材料。

5.试样容器:内腔Φ16.30±0.1mmΦ10±0.1mm。可选用

6.试样高度:16mm±0.5mm, 10mm±0.5mm测量误差±0.1mm

7.  取样压力::4Μpa±0.05Μpa(40kg/cm2±0.5kg/cm2

8.  显示方式: 3 1/2 数量字显示电阻、电阻率、压力、单位、小数点。自动显示。

9. 电源:22010%,50--60HZ,功率消耗<150W

10.外形:电气箱,440mm×110mm×320mm

 

 

半导体粉末电阻率测试仪

 

 

 

产品名称:数字示波器/数字示波仪
产品型号:DS1102E

数字示波器/数字示波仪型号:DS1102E

1. 混合信号示波器(MSO)配备16通道逻辑分析仪
(DS1000D)
2. 实时采样率1 GSa/s, 存储深度高达1 Mpts
3. 丰富的触发功能:边沿、视频、脉宽、斜率、交替

4. 5.6英寸 64k色TFT LCD,清晰显示波形
5. 紧凑的设计,节约实验台桌面空间
6. 集成USB Host & Device, 支持U盘存储和PictBridge
打印机

设备型号

DS1102E

DS1052E

 

DS1102D

DS1052D

带宽

100MHz

50MHz

通道数

2 通道+外触发

实时采样率

1GSa/s(单通道),500MSa/s(双通道)

等效采样率

25GSa/s

10GSa/s

上升时间

3.5ns

7ns

存储深度

通道模式

采样率

普通存储

长存储

单通道

1GSa/s

16kpts

N.A.

单通道

500Msa/s或更低

16kpts

1Mpts

双通道

500Msa/s或更低

8kpts

512kpts

时基范围

2 ns/div ~50s/div

5 ns/div ~50s/div

触发方式

边沿、视频、脉宽、斜率、交替、码型和持续时间(DS1000D)

垂直分辨率

8 bits

垂直灵敏度

2 mV/div ~10V/div

Z大输入电压

All Input 1MΩ||15pF 300Vrms Max CATI

滚动范围

500ms/div ~50s/div

光标测量

手动模式、追踪模式、自动测量

数学运算

+,-,×,FFT

内部存储

10 组波形、10组设置

外部存储

BMP、CSV、波形存储、设置存储

接口

USB Device,USB Host,RS-232, P/F Out

显示

64 k色TFT彩色液晶屏,320×234分辨率

电源

AC: 100 ~ 240 VACRMS,45 ~ 440 Hz,CAT II,50 VA Z大值

MSO 逻辑分析仪

DS1102D

DS1052D

通道数

16 通道

采样率

200MSa/s (每通道l)

存储深度

512k pts (每通道l)

触发方式

码型和持续时间

门限电平

TTL=1.4V, CMOS=2.5V, ECL=-1.3V, USER=-8V ~ + 8V

 

 

 

 

 

产品名称:差示扫描量热仪
产品型号:DSCHP 停产

差示扫描量热仪型号:DSCHP

DSCHP差示扫描量热仪介绍: 
   材料的物理过程和化学反应会受到气体压力的影响,需要在一定压力下进行DSC测试。 
     DSCHP差示扫描量热仪是我公司推出的一款DSC,用于测量在一定压力下材料内部热转变相关的温度、热流的关系。    

    应用范围广泛,应用于:氧化稳定性、聚合物固化反应、相转变、熔融、黏合剂的交联、氧化诱导期、模拟实际反应环境和特定气氛下测量、测量与沸点有关的压力等。 

DSCHP差示扫描量热仪主要特点: 
1.特殊的炉体结构,确保下基线的稳定性和重复性 
2.安全防护系统,保障0-5MPa压力范围的安全性 
3.仪器采用双向控制(主机控制、软件控制),界面友好,操作简便 


DSCHP差示扫描量热仪技术参数: 
1. DSC量程:  0~±500mW 
2. 温度范围: 室温~600℃   
3. 压力范围: 0~5MPa     
4. 升温速率: 1~60℃/min 
5. 温度分辨率: 0.1℃ 
6. 温度波动: ±0.1℃ 
7. 温度重复性: ±0.1℃ 
8. DSC噪声: 0.01μW 
9. DSC解析度: 0.01μW 
10.DSC精确度: 0.1μW 
11.DSC灵敏度: 0.1μW 
12.控温方式: 升温、恒温(全自动程序控制) 
13.曲线扫描: 升温扫描 
14.显示方式: 24bit色,7寸 LCD触摸屏显示 
15.数据接口: 标准USB接口 
16.参数标准:   配有标准物质(锡),用户可自行校正温度和热焓

 

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