应力集中检测仪

     应力集中检测仪 金属磁记忆检测仪 TC-TSC-2M-8 

、记录和处理设备与结构的应力形变状况的诊断数据的系统。
　　 能用于按专门的检测方法来评估设备的应力变形状况，并测定应力集中区。此仪器的工作原理在于测量被检测对象表面磁场Hp的分布。磁场强度使用A/m （安培/米）为单位，长度计数器换算出长度值，以mm为单位。

    
　　该系列仪器从方法上确立了磁场Hp分布同残余应力之间的关系。本仪器连同开发出来的于不同工业部门的检测方法，对在运行中设备的诊断领域提供了崭新的原理和手段。这里所采用的条件是，找出结构的薄弱部位，其形式是金属的磁记忆。检测方法符合联邦采矿技术监督局的规定。本仪器已被推荐进入联邦标准

功能外，同时拥有以下更*结构和功能特点：

　　多达8个测量通道；
　　使用配备新型双分量传感器，多个铁磁探测式转换器放置成双分量，用来同时检测磁场的法向分量（Нру）和切向分量（Нрх）；

    应力集中检测仪 金属磁记忆检测仪
　　数字电路、16位微处理器、1M内存；
　　32MB存储空间，用于写入10-15天期间检测结果而无须将信息转入电脑；
　　分辨率为320X240点阵的大屏幕液晶显示；
　　操作简化，使用14键键盘；
　　软件直接在仪器上自动处理结果；
　　探头可以测量场强值和移动长度值，速度Z大可达0.5米/秒；
　　不要求对被检测对象进行专门的磁化，因为它利用了它们运行中形成的残余磁性；
　　不要求对被检测表面作任何准备；
　　在检测过程中能确定事先不知道的金属的应力集中和缺陷的部位；
　　仪器能把数据记录到存储器，并可把数据转录入计算机中；
　　配套提供分析软件MM-System，可在计算机上对数据作深入的处理。

技术参数：

产品名称：数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪 产品型号：M-2

数字式电阻率测试仪/便携式电阻率检测仪型号：M-2

一·概述 
M-2型数字式电阻率测试仪是运用四探针测量原理的多种用途综合测量装置，它可以测量片状，块状半导体材料的径向和轴向电阻率，测量扩散层的薄层电阻（也称方块电阻）。换上特制的四探针测试夹具，还可以对金属导体的低，中值电阻进行测量。 

仪器由主机，测试探头（可选配测试台）等部分组成，测试结果用数字表头直接显示。主机主要由数控恒流源，高分辨率ADC，嵌入式单片机系统组成，自动转换量程。测试探头采用高耐磨碳化钨探针制成，定位准确，游移率较小，寿命长。 

仪器于半导体材料厂，半导体器件厂，科研单位，高等院校对半导体材料的电阻性能的测试。特别于要求快速测量中低电阻率的场合. 

本仪器工作条件为： 
温度：  
相对湿度： 60% ~ 70% 
工作室内应无强电磁场干扰，不与高频设备共用电源 

二· 技术参数 
1. 测量范围： 

电阻率：10 -2  ~ 102Ω-cm 
方块电阻：10 -1  ~ 103Ω/□ 
电阻：10 -3  ~ 9999Ω 



2. 可测半导体材料尺寸 
直径：15mm-100mm 
长（或高）度：≤400mm 


3. 测量方位： 
轴向，径向均可 

4. 数字电压表 
量程：2V 
误差: ：± 0.1% FSB ± 2LSB 
Z大分辨力：10μA 
精度： 18位ADC ( 5 1/2 位) 
显示：4位数字显示，小数点自动显示 

5. 数控恒流源 
电流输出： 直流电流 2μA~ 2mA, 2μA步进可调，系统自动调整。 
误差：± 0.1% FSB ± 0.5LSB 

6. 四探针测试探头： 
探针间距： 1mm 
探针机械游移率：± 1% 
探针：碳化钨，直径0.5mm 
7.电源：  
DC 4.5V ~8V 
功耗： < 1W 
电源适配器：输入： 220V±10% 50Hz 
输出：DC5V ± 10% 
8. 外形尺寸： 
主机： 170mm (长) X 130mm (宽) X50mm(高)

产品名称：可塑性试验机  产品型号：KSD-49

可塑性试验机 型号：KSD-49

用途：于测定生胶、素炼胶、混合胶的可塑性。 
主要技术参数： 
两平行板间试样承受力：49±0.05N 
控制温度：70±1℃ 
百分表测程：0-30mm，精度0.01mm 
电热功率：220V±10%、700W、50Hz