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记忆式照度计TD-2005LX

简要描述:记忆式照度计TD-2005LX

自动记录16000笔数据,含时间纪录(年月日时分秒)
手动记录数据,Z多250笔
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/烛光)单位选择切换
精确度: ±4%

  • 产品型号:TD-2005LX
  • 厂商性质:其他
  • 更新时间:2024-05-01
  • 访  问  量:496

详细介绍

产地国产加工定制

记忆式照度计TD-2005LX 

自动记录16000笔数据,含时间纪录(年月日时分秒)
手动记录数据,Z多250笔
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/烛光)单位选择切换
精确度: ±4%
感光器光谱反应符合C.I.E.规范
内建四种受光源系数补偿

记忆式照度计TD-2005LX 
可外接电源或使用电池

 

自动记录16000笔数据,含时间纪录(年月日时分秒)
手动记录数据,Z多250笔
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/烛光)单位选择切换
精确度: ±4%
感光器光谱反应符合C.I.E.规范
内建四种受光源系数补偿
  一般照度、钠灯(sodium)、日光灯( fluorescent light)及太阳灯(sunlamp)  
读值锁定及记录测量中之Z大/Z小值
可外接电源或使用电池

自动记录16000笔数据,含时间纪录(年月日时分秒)
手动记录数据,Z多250笔
0.1~100000LUX/0.1~10000FC
LUX(照度)/Ft-cd(呎/烛光)单位选择切换
精确度: ±4%
感光器光谱反应符合C.I.E.规范
内建四种受光源系数补偿
  一般照度、钠灯(sodium)、日光灯( fluorescent light)及太阳灯(sunlamp)  
读值锁定及记录测量中之Z大/Z小值
可外接电源或使用电池

 

 

 

 

产品名称:手持式四探针测试仪
产品型号:M-3

手持式四探针测试仪型号:M-3

M-3型手持式四探针测试仪是运用四探针测量原理测试电阻率/方阻的多用途综合测量仪器。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法标准并参考美国 A.S.T.M 标准。 
仪器成套组成:由M-3主机、选配的四探针探头等二部分组成,也可加配测试台。 
仪器所有参数设定、功能转换全部采用轻触按键输入;具有零位、满度自校功能;手动/自动转换量程可选;测试结果由数字表头直接显示。本测试仪采用可充电电池供电,适合手持式变动场合操作使用! 
探头选配:根据不同材料特性需要,探头可有多款选配。有高耐磨碳化钨探针探头,以测试硅类半导体、金属、导电塑料类等硬质材料的电阻率/方阻;也有球形镀金铜合金探针探头,可测柔性材料导电薄膜、金属涂层或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上导电膜(ITO膜)或纳米涂层等半导体材料的电阻率/方阻。换上四端子测试夹具,还可对电阻器体电阻、金属导体的低、中值电阻以及开关类接触电阻进行测量。配探头,也可测试电池片等箔上涂层电阻率方阻。  
详见《四探针探头特点与选型参考》点击进入 
仪器具有测量精度高、灵敏度高、稳定性好、智能化程度高、结构紧凑、使用简便等特点。  
仪器于半导体材料厂、器件厂、科研单位、高等院校对导体、半导体、类半导体材料的手持式导电性能的测试。

4) 适配器工作电源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W,或电池供电

5) 外形尺寸:W×H×L=10cm×3.6cm×21cm

净   重:≤0.3kg

  
三、基本技术参数 
1. 测量范围、分辨率

 

量程(Ω-cm/□)

2.000

20.00

200.0

2.000k

20.00k

电阻测试范围

0.010~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~50.00k

电阻率/方阻

0.010/0.050~2.200

2.000~22.00

20.00~220.0

0.200~2.200k

2.000~20.00k/100.0k

基本误差

±1%FSB±2LSB

±2%FSB±2LSB


电    阻:     0.010Ω ~ 50.00kΩ,     分辨率0.001Ω ~ 10 Ω 
电 阻 率:     0.010Ω-cm~ 20.00kΩ-cm, 分辨率0.001Ω ~ 10 Ω-cm 
方块电阻:     0.050Ω/□ ~ 100.00kΩ/□   分辨率0.001Ω ~ 10 Ω/□  
2. 可测材料尺寸 
手持方式不限材料尺寸,但加配测试台则由选配测试台决定如下: 
直    径:SZT-A圆测试台直接测试方式 Φ15~130mm。停产 
SZT-C方测试台直接测试方式180mm×180mm。 
长(高)度:测试台直接测试方式 H≤100mm。. 
测量方位: 轴向、径向均可. 
3. 量程划分及误差等级

 

 

 

产品名称:缺口制样机 
产品型号: QK20

  缺口制样机  型号: QK20
  
 QK20缺口制样机,是用机械加工方法制备加工塑料、有机玻璃等非金属材料的简支梁、悬臂梁冲击试验用标准缺口样条的设备,该机符合ISO179、ISO180、GB/T1043、GB/T1843、GB/T8814D的要求 

主要技术参数及规格: 
铣缺口刀具长度:50 mm 
大铣切厚度:20mm

 

 

 

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